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新能源汽车MCU产线老化&EOL下线功能测试方法

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新能源汽车MCU产线老化&EOL下线功能测试方案:

新能源汽车电机控制器(MCU)产线老化&EOL下线功能测试主要是在MCU完成装配后,对MCU进行老化测试和功能测试。以保证MCU的生产质量和0公里PPM。

这个测试系统由2部分组成:MCU老化测试系统和MCU功能测试系统。测试过程操作简易,以便于满足生产节拍要求和产线易操作的要求。所有测试数据可以追踪和保存,并可打印出每个产品的测试数据单。

新能源汽车电机控制器(MCU)产线老化&EOL下线功能测试系统应包含:

  • MCU自动连接系统,实现水路和电气回路的全自动连接,降低人员搬运的难度和成本;
  • 自动加载系统,实现电机控制器MCU的指定加载,实现加速、低速、高速、制动等多种工况的验证;
  • ?;すδ懿馐?,实现MCU?;さ缏饭δ艿难橹?;
  • 电安全测试,实现国标规定的法规项目的测试;
  • 内部诊断测试,实现MCU内部诊断的测试和验证;
  • MCU标定相关功能测试,实现MCU内部的功能诊断;
  • 自动连接MES系统,实现MES交互和控制,以及测试结果的上传和交互。
  • 其他安全防护功能。

发布时间

2019-09-15

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TEL:18611124457

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